ДЕФЕКТЫ НАНОТРУБОК ДЛЯ НАНОЭЛЕКТРОНИКИ: СРОСТКИ
Аннотация
Рассмотрена задача о высокочастотных осцилляциях профилей интенсивности рефлексов микродифракционных картин отдельных нанотрубок вдоль слоевых линий. Рассмотрены возможные структуры продольных сростков нанотрубок с различными внешними и внутренними радиусами, идентификация которых необходима при выборке нанотрубок для изделий наноэлектроники. Проведен сравнительный математический анализ осцилляций в случаях обычных кристаллов (сателлиты) и многослойных коаксиальных нанотрубок, а также двух случаев цилиндрических сростков. Показано, что, как и в случае обычных кристаллов, осцилляции в области крыльев рефлексов определяются размерами кристалла (толщиной стенки трубки), в то время как специфические осцилляции их главных максимумов – внутренним диаметром нанотрубки.